國儀量子超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡-掃描電鏡SEM4000Pro

SEM4000超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡是一款分析型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍。三級磁透鏡設計,束流大且連續(xù)可調(diào),在EDS、EBSD、WDS等應用上具有明顯優(yōu)勢。支持低真空模式,可直接觀察導電性弱或不導電樣品。標配的光學導航模式,以及直觀的操作界面,讓您的分析工作倍感輕松。
 

 
掃描電子顯微鏡產(chǎn)品特點
01 配備高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍
 02 分辨率高,30 kV下優(yōu)于0.9 nm的極限分辨率
 03 三級磁透鏡設計,束流可調(diào)范圍大,最大支持 200 nA 的分析束流
  04 標配低真空模式,以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器
 06 標配的光學導航模式,中文操作軟件,讓分析工作更輕松
 掃描電子顯微鏡應用案例

 
掃描電子顯微鏡產(chǎn)品參數(shù)
                        | 關鍵參數(shù) |             高真空分辨率 |             0.9 nm @ 30 kV,SE |         
                    | 低真空分辨率 |             2.5 nm @ 30 kV,BSE,30 Pa |         
                    | 1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa |         
                    | 加速電壓 |             200 V ~ 30 kV |         
                    | 放大倍率 |             1 ~ 1,000,000 x |         
                    | 電子槍類型 |             肖特基熱場發(fā)射電子槍 |         
                    | 樣品室 |             真空系統(tǒng) |             全自動控制 |         
                    | 低真空模式 |             最大180 Pa |         
                    | 攝像頭 |             雙攝像頭 |         
                    | (光學導航+樣品倉內(nèi)監(jiān)控) |         
                    | 行程 |             X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm |         
                    | T: -10°~+70°,R: 360° |         
                    | 探測器和擴展 |             標配 |             旁側(cè)二次電子探測器(ETD) |         
                    | 低真空二次電子探測器(LVD) |         
                    | 插入式背散射電子探測器(BSED) |         
                    | 選配 |             能譜儀(EDS) |         
                    | 背散射衍射(EBSD) |         
                    | 插入式掃描透射探測器(STEM) |         
                    | 樣品交換倉 |         
                    | 軌跡球&旋鈕控制板 |         
                    | 軟件 |             語言 |             中文 |         
                    | 操作系統(tǒng) |             Windows |         
                    | 導航 |             光學導航、手勢快捷導航 |         
                    | 自動功能 |             自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散 |